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• 晶片電阻可靠度實驗量測系統

• 量測範圍: 依照儀表範圍

• 搭配儀表特性, 確保量測再現性與再生性
• 提供客制化表格
• 可搭配手動/ 自動掃描器/ 軸控系統
• 可選擇不同儀表
• 可選擇單顆或 Array

• 輸入料號自動判別阻值, 型別, 測試上下限
• 手動鍵入阻值, 型別, 測試上下限
• 報表抬頭可選擇
• 可配合 Barcode 輸入料號

• 產品資料設定
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• EXCEL 報告格式
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• 測試資料設定
• 
• 量測畫面
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• 晶片電阻 STOL 實驗系統
• 定電壓/ 定電流

• 電壓範圍: 850V/ 1.2A
• 電流範圍: 35V/ 108A (可以擴充)
• 時間控制: 0.05s ~10s
• 週期控制: 0-99999

• 品保實驗室, OQC, IQC, 單機量測, 品檢產品使用
• 研發, 雷切站預切/  試切/  切後確認
• 厚膜電阻, 薄膜電阻, 金屬合金電阻
  

• 精度夠, 穩定性高
• 有效偵測動態誤差, 改善低阻熱效應, 高阻暫態問題
• 提升良率與效率
• 避免探針老化產生之誤差具儲存記錄功能, 可儲存設定值記錄及30000筆記錄
  

• 品保實驗室, OQC, IQC, 單機量測, 品檢產品使用
• 研發, 雷切站預切/   試切/   切後確認
• 厚膜電阻, 薄膜電阻, 金屬合金電阻
  

• 精度夠, 穩定性高
• 有效偵測動態誤差, 改善低阻熱效應, 高阻暫態問題
• 提升良率與效率
• 避免探針老化產生之誤差
• 具儲存記錄功能, 可儲存設定值記錄及30000筆記錄
  

• 用於測試超低或低並聯電阻的電阻計
• 超高速，高精度電阻測量: 測量時間最短為 1.6ms ，在0.1mΩ檔位時，精度可到0.16%。
• 高解析度7 位元顯示: 測量範圍是 0 Ω（ 0.0000m Ω） ~ 1200.000 Ω，最低量測可至10nΩ
  
• 即時斷線檢查功能
• 低電量電阻量測
• 最多能儲存30000比量測資料

• 品保實驗室、 OQC、 IQC、 單機量測， 品檢產品使用
• 研發, 雷切站預切/  試切/  切後確認
• 厚膜電阻，薄膜電阻，金屬合金電阻
  

• 精度夠， 穩定性高， 可以測包0.01%產品
• 有效偵測動態誤差， 改善低阻熱效應， 高阻暫態問題
• 提升良率與效率
• 避免探針老化產生之誤差
• 具儲存記錄功能，可儲存設定值及30000筆記錄

高精度且支援多點量測(在四線式量測模式下，最多可測20點)

• 基本精度0.006%，解析位元：6位半
• 解析度：0.01μΩ，最大量測電流支援到1A
• 量測範圍廣，從0.00μΩ到1200MΩ
  
• 支援低功量測
• 支援多種通訊介面，可支援各種自動化生產線

5〜1000V/最大5×10^6Ω 至2×10^16Ω 超絕緣電阻計
超megohm測量
LCD 數字/模擬顯示
相容幾個樣品類型有電極及其它設備的測量

• 測量電壓 : 10~ 1000V DC (7ranges)
• 測量範圍 : 0.05 - 2 x 1010MΩ (9ranges)
  
• 數位模式險顯示在LCD上
• 裝備與充電釋放作用(標準規格)
• 配備了計時器，遙控啟動，比較和高壓功能(標準規格)
• 量測的幾個樣品類型及其他設備