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• 晶片电阻可靠度实验量测系统

• 量测范围: 依照仪表范围

• 搭配仪表特性, 确保量测再现性与再生性
• 提供客制化表格
• 可搭配手动/ 自动扫描器/ 轴控系统
• 可选择不同仪表
• 可选择单颗或 Array

• 输入料号自动判别阻值, 型别, 测试上下限
• 手动键入阻值, 型别, 测试上下限
• 报表抬头可选择
• 可配合 Barcode 输入料号

• 产品资料设定
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• EXCEL 报告格式
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• 测试资料设定
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• 量测画面
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• 晶片电阻 STOL 实验系统
• 定电压/ 定电流

• 电压范围: 850V/ 1.2A
• 电流范围: 35V/ 108A (可以扩充)
• 时间控制: 0.05s ~10s
• 周期控制: 0-99999

• 品保实验室, OQC, IQC, 单机量测, 品检产品使用
• 研发, 雷切站预切/  试切/  切后确认
• 厚膜电阻, 薄膜电阻, 金属合金电阻
  

• 精度够, 稳定性高
• 有效侦测动态误差, 改善低阻热效应, 高阻暂态问题
• 提升良率与效率
• 避免探针老化产生之误差具储存记录功能, 可储存设定值记录及30000笔记录
  

• 品保实验室, OQC, IQC, 单机量测, 品检产品使用
• 研发, 雷切站预切/   试切/   切后确认
• 厚膜电阻, 薄膜电阻, 金属合金电阻
  

• 精度够, 稳定性高
• 有效侦测动态误差, 改善低阻热效应, 高阻暂态问题
• 提升良率与效率
• 避免探针老化产生之误差
• 具储存记录功能, 可储存设定值记录及30000笔记录
  

• 用於测试超低或低并联电阻的电阻计
• 超高速，高精度电阻测量: 测量时间最短为 1.6ms ，在0.1mΩ档位时，精度可到0.16%。
• 高解析度7 位元显示: 测量范围是 0 Ω（ 0.0000m Ω） ~ 1200.000 Ω，最低量测可至10nΩ
  
• 即时断线检查功能
• 低电量电阻量测
• 最多能储存30000比量测资料

• 品保实验室、 OQC、 IQC、 单机量测， 品检产品使用
• 研发, 雷切站预切/  试切/  切后确认
• 厚膜电阻，薄膜电阻，金属合金电阻
  

• 精度够， 稳定性高， 可以测包0.01%产品
• 有效侦测动态误差， 改善低阻热效应， 高阻暂态问题
• 提升良率与效率
• 避免探针老化产生之误差
• 具储存记录功能，可储存设定值及30000笔记录

高精度且支援多点量测(在四线式量测模式下，最多可测20点)

• 基本精度0.006%，解析位元：6位半
• 解析度：0.01μΩ，最大量测电流支援到1A
• 量测范围广，从0.00μΩ到1200MΩ
  
• 支援低功量测
• 支援多种通讯介面，可支援各种自动化生产线

5〜1000V/最大5×10^6Ω 至2×10^16Ω 超绝缘电阻计
超megohm测量
LCD 数字/模拟显示
相容几个样品类型有电极及其它设备的测量

• 测量电压 : 10~ 1000V DC (7ranges)
• 测量范围 : 0.05 - 2 x 1010MΩ (9ranges)
  
• 数位模式险显示在LCD上
• 装备与充电释放作用(标准规格)
• 配备了计时器，遥控启动，比较和高压功能(标准规格)
• 量测的几个样品类型及其他设备