电阻 OQC 资料量测系统
应用
产品资料设定
量测画面
测试报告
- 晶片电阻 OQC 量测系统
- 搭配我司低阻量测治具
- 量测范围: 依照仪表范围
- 量测尺寸: 依照客户指定
- 搭配仪表特性, 确保量测再现性与再生性
- 提供客制化表格
- 可搭配手动治具
- 可选择不同仪表
- 可选择单颗或 Array
- 输入料号自动判别阻值, 型别, 测试上下限
- 手动键入阻值, 型别, 测试上下限
- 可配合 Barcode 输入料号
产品资料设定
量测画面
测试报告
MLCC 测包机量测线
应用
- HIOKI 3504, 3506, ADEX 363, ADEX 365E 测包量测线
- 外径: 10-12 mm
- 特性阻抗: 50Ω
- 导体阻抗: <120m Ω/ m
- 另有 HRS 接头样式接测座
- 频率适用: <10MHz
- 长度: 58cm, 可依客户指定长度.
MLCC 四项检测机
应用
机台规划
量测区
机台配置
配件
0201 100pcs 治具 x 3pcs
0402 100pcs 治具 x 3pcs
0603 100 pcs 治具 x 3pcs
开路补偿治具 x 1pcs
短路补偿治具 x 1pcs
震动辅助入料治具组 x 1
- MLCC QA 电性量测系统
- 量测范围: 0.2pF ~ 22uF; D: 0.0001~0.01
- 温度范围: 室温无控制
- 电容尺寸: 0201, 0402, 0603
- C, D 与 IR, Flash 同时量测
- 两工位测试, 提高检测效率
- 4 通道量测, 提高检测效率
- 多通道补偿功能, 提高量测准确度
- 可一次作业 Cap、TanD、IR、Flash 测试
- 可以自动分辨良品与不良品
- 量测资料自动收集, 统计图表, 报表列印
- 可提供条码输入, 电脑自动设定仪表
- 震动辅助入料
- 首批踩针检测
| 项目 | 规格 |
| 量测精度 | 依客户选择之仪表 |
| 量测速度 | CD: 60s/ 100pcs IR & Flash: 60s /80pcs |
| 上下料 | 手动 |
| 不良料分类 | 人工使用吸笔取出取出 |
| 机台尺寸 | W700xL700xH1800 |
| 搭载电表 | Agilent 4288 x 1, 4349 x 2 set IRDC: CDP-1000 x 2 set |
| 仪表控制 | GPIB |
| 测试治具 | CD: 5 pcs x 20 pcs IR (Flash): 4 pcs x 20 pcs |
| 扫描器 | CD: 5 通道扫描器 |
机台规划
量测区
机台配置
配件
0201 100pcs 治具 x 3pcs
0402 100pcs 治具 x 3pcs
0603 100 pcs 治具 x 3pcs
开路补偿治具 x 1pcs
短路补偿治具 x 1pcs
震动辅助入料治具组 x 1
MLCC 快速缺陷电性分析系统
应用
高低温炉体规格
治具规格
- MLCC 缺陷电性分析
- 特殊治具设计.
- 弹匣式治具设计，单一治具抽换，免开门，避免影响其他试验
- 宽范围限流电阻，可以依照不同容值选择限流电阻。
- 固定温度，电压升压斜率 (线性) 客户可自行设定。
- 固定电压，温度温升斜率 (线性) 客户可自行设定。
- 硬体过载保护，客户可以自行选择硬体条件停止加电压。
- 软体过载保护，客户可以依照软件条件停止加电压。
- 显示良品，不良品，纪录失效时间，IR 值及电流值。
- 可设定失效规格，超高速扫描。
| 项目 | 规格 |
| 绝缘电阻 | 10¹¹~10³ |
| 电压范围 | 0-600V |
| 取样频率 | 1ms每CH |
| 最大样品数 | 100pcs |
| 硬体切断时间 | <10ms |
高低温炉体规格
| 项目 | 规格 |
| 产地 | 台湾 |
| 温度范围 | 室温~200℃ |
| 温度变动/控制精度 | 2℃/ 0.5℃ |
| 温升速度/温降速度 | 每分钟 3.2℃/ 2.1℃ |
| 内部尺寸 | 约 W*H*D 300*300*250 |
| 外部尺寸 | 约 W*H*D 440*690*696 |
| 电源供应器 | 880V, 4 台 |
治具规格
| 项目 | 规格 |
| 治具A | 0201~0402 |
| 治具B | 0402~1206（含disk dia.=10mm) |
| 治具C | 1206~2220 |
MLCC 高温寿命加速实验/ 高温高湿寿命加速实验
MLCC 高温寿命加速实验/ 高温高湿寿命加速实验
Temp-HALT/ Humi-Halt
应用
- MLCC 新产品开发寿命加速实验机
- MLCC IR 温度曲线/ 偏压 IR 曲线
特性功能
- 01005~0201 治具设计.
- 弹匣式治具设计，单一治具抽换，免开门，避免影响其他试验
- 限流电阻可以依照不同容值选择限流电阻.
- 电路模组化, 客户可以自行更换限流电阻.
- 固定温度，电压升压斜率 (线性) 客户可自行设定。
- 固定电压，温度温升斜率 (线性) 客户可自行设定。
- 客户可以依照条件停止加电压
- 高温高湿，治具可以翻转 180 度，避免水滴聚集影响试验。
- 显示良品，不良品，纪录失效时间，IR 值及电流值。
- 可设定失效规格。
电性规格
|
项目 |
规格 |
|
绝缘电阻 |
1011~103 |
|
电压范围 |
0~600V, 8 台 |
|
取样频率 |
2s/ 10s/60s 每 CH |
高低温炉体规格
|
项目 |
规格 |
|
产地 |
日本 |
|
温度范围 |
-60~150°C |
|
温度变动/控制精度 |
0.5°C/ 0.1°C |
|
温升速度/温降速度 |
每分钟 3.2°C/ 2.1°C |
|
内部尺寸 |
W*H*D 300*300*250 |
|
外部尺寸 |
W*H*D 440*625*786 |
温湿炉规格
|
项目 |
规格 |
|
产地 |
日本 |
|
温度范围 |
-20~150°C |
|
温度变动/控制精度 |
0.5°C/ 0.1°C |
|
温升速度/温降速度 |
每分钟 3.2°C/ 2.1°C |
|
湿度范围 |
30~95% RH (依照范围表) |
|
湿度变动 |
+/-3% R.H. |
|
内部尺寸 |
W*H*D 300*300*250 |
|
外部尺寸 |
W*H*D 440*690*696 |
湿度范围表
治具规格
|
项目 |
规格 |
|
治具 A |
01005~0402 |
|
治具 B |
0402~1206 ( 含 disk dia.=10mm) |
|
治具 C |
1206~2220 |
|
共用性 |
高温/ 高湿可共用 |
短时间过负荷测试系统 Short Time Overload
Short Time Overload 测试
◎2.5 times RCWV or Max.
overload voltage , for 5 seconds
◎IEC 60115-1 4.13
- 单颗加载
- PCB 多颗加载
- 可依客户需求规划设计
TCR (温度特性试验)
应用
- 晶片电阻TCR实验量测系统
- 搭配仪表特性, 确保量测再现性与再生性
- 四线式量测，全程独隔离线等电位点，确保量测品质。
- 耐高温治具，量测讯号线
- 提供客制化表格
- 可搭配手动/ 自动扫描器/ 轴控系统
- 可选择搭配不同仪表
电源供应器PSU系列
- 额定功率输出：1200W ~ 1560W
- 可调式电压/电流上升下降斜率
- 串联/ 并联扩充能力(同型号最多2台(限定300V以下机种)/同型号最多4台)
- 高效率及高功率密度
- 3组Preset Function
- 前面板序列编程功能
- Bleeder Control功能
- Internal Resistance 功能
- 面板锁定功能
- 保护功能: OVP, OCP, OHP,UVL, AC Fail, FAN Fail
- CE认证
