3506-10D 电容测试仪
特性
规格
精度
- 模拟测量时间 0.6ms (1MHz)的高速测量
- 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
- 1MHz 测量下，低电容的贴片时可稳定测量
- 根据 BIN 的测定区分容量
- 平均功能: 可以平均 1~256 次。
- 接触不良判别: 可以使用 Low-C，及 Chatter 功能侦测接触不良。
- 电流侦测, 量测电压侦测避免噪声干扰。
- 触发延迟功能: 可搭配客户端设备设定延迟时间。
- 补偿功能: 对于较低的容值运用开路，短路补偿可以达到更精准。
- BIN 筛选功能: 有 13 个区间可以选别。
- 比较功能: 设定上下限规格，可以用来筛选产品。
- 全距负载补偿功能，提升测试效率。
- 短距电气长度补偿，增进量测精精度。
- 偏差功能范围限制，防止人为异常设定.
规格
| 量测参数 | C（电容值），D（损失角） |
| 量测频率 | 1 kHz/1 MHz |
| 量测电压 | 0.5V/1V |
| 量测范围 | C：0.000fF to 15.000μF D：0.00001 to 1.99999 Q：0.0 to 19999.9 |
| 等效电路 | 串联/并联等效电路 |
| 量测时间 | 代表值 1.5ms |
| 量测速度 | 快速/中速/慢速 |
| 通讯接口 | RS232/GPIB |
| 量测档位 | 1MHz：12档位，1 KHz：16档位 |
| 使用环境 | 温度：0 to 40°C，湿度：80% R.H. |
| 电源 | 可选择 100，120，220 or 240 V ±10%，50/60 Hz |
| 尺寸 | 宽 260 W x 高 100 x 深 298 D mm |
| 重量 | 4.8 公斤 |
精度
| 频率 | 规格 |
| 1 KHz | 0.12% reading |
| 1 MHz | 0.22pF：0.20% reading 0.47pF：0.15% reading 1pF/2.2pF/4.7pF/10pF/22pF/47pF/100pF/220pF/470pF/1nF：0.12% reading |
3504-40 电容测试器
为高速MLCC检查的电容测量仪器与恒定的电压
- 保证定电压测量(1V或500mV)
- 高速测量2ms
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