電阻 OQC 資料量測系統
應用
產品資料設定
量測畫面
測試報告
- 晶片電阻 OQC 量測系統
- 搭配我司低阻量測治具
- 量測範圍: 依照儀表範圍
- 量測尺寸: 依照客戶指定
- 搭配儀表特性, 確保量測再現性與再生性
- 提供客制化表格
- 可搭配手動治具
- 可選擇不同儀表
- 可選擇單顆或 Array
- 輸入料號自動判別阻值, 型別, 測試上下限
- 手動鍵入阻值, 型別, 測試上下限
- 可配合 Barcode 輸入料號
產品資料設定
量測畫面
測試報告
MLCC 測包機量測線
應用
- HIOKI 3504, 3506, ADEX 363, ADEX 365E 測包量測線
- 外徑: 10-12 mm
- 特性阻抗: 50Ω
- 導體阻抗: <120m Ω/ m
- 另有 HRS 接頭樣式接測座
- 頻率適用: <10MHz
- 長度: 58cm, 可依客戶指定長度.
MLCC 四項檢測機
應用
機台規劃
量測區
機台配置
配件
0201 100pcs 治具 x 3pcs
0402 100pcs 治具 x 3pcs
0603 100 pcs 治具 x 3pcs
開路補償治具 x 1pcs
短路補償治具 x 1pcs
震動輔助入料治具組 x 1
- MLCC QA 電性量測系統
- 量測範圍: 0.2pF ~ 22uF; D: 0.0001~0.01
- 溫度範圍: 室溫無控制
- 電容尺寸: 0201, 0402, 0603
- C, D 與 IR, Flash 同時量測
- 兩工位測試, 提高檢測效率
- 4 通道量測, 提高檢測效率
- 多通道補償功能, 提高量測準確度
- 可一次作業 Cap、TanD、IR、Flash 测试
- 可以自動分辨良品與不良品
- 量測資料自動收集, 統計圖表, 報表列印
- 可提供條碼輸入, 電腦自動設定儀錶
- 震動輔助入料
- 首批踩針檢測
| 項目 | 規格 |
| 量測精度 | 依客戶選擇之儀表 |
| 量測速度 | CD: 60s/ 100pcs IR & Flash: 60s /80pcs |
| 上下料 | 手動 |
| 不良料分類 | 人工使用吸筆取出取出 |
| 機台尺寸 | W700xL700xH1800 |
| 搭載電錶 | Agilent 4288 x 1, 4349 x 2 set IRDC: CDP-1000 x 2 set |
| 儀錶控制 | GPIB |
| 測試治具 | CD: 5 pcs x 20 pcs IR (Flash): 4 pcs x 20 pcs |
| 掃描器 | CD: 5 通道掃描器 |
機台規劃
量測區
機台配置
配件
0201 100pcs 治具 x 3pcs
0402 100pcs 治具 x 3pcs
0603 100 pcs 治具 x 3pcs
開路補償治具 x 1pcs
短路補償治具 x 1pcs
震動輔助入料治具組 x 1
MLCC 快速缺陷電性分析系統
應用
高低溫爐體規格
治具規格
- MLCC 缺陷電性分析
- 特殊治具設計.
- 彈匣式治具設計，單一治具抽換，免開門，避免影響其他試驗
- 寬範圍限流電阻，可以依照不同容值選擇限流電阻。
- 固定溫度，電壓昇壓斜率 (線性) 客戶可自行設定。
- 固定電壓，溫度溫昇斜率 (線性) 客戶可自行設定。
- 硬體過載保護，客戶可以自行選擇硬體條件停止加電壓。
- 軟體過載保護，客戶可以依照軟件條件停止加電壓。
- 顯示良品，不良品，紀錄失效時間，IR 值及電流值。
- 可設定失效規格，超高速掃描。
| 項目 | 規格 |
| 絕緣電阻 | 10¹¹~10³ |
| 電壓範圍 | 0-600V |
| 取樣頻率 | 1ms每CH |
| 最大樣品數 | 100pcs |
| 硬體切斷時間 | <10ms |
高低溫爐體規格
| 項目 | 規格 |
| 產地 | 台灣 |
| 溫度範圍 | 室溫~200℃ |
| 溫度變動/控制精度 | 2℃/ 0.5℃ |
| 溫升速度/溫降速度 | 每分鐘 3.2℃/ 2.1℃ |
| 內部尺寸 | 約 W*H*D 300*300*250 |
| 外部尺寸 | 約 W*H*D 440*690*696 |
| 電源供應器 | 880V, 4 台 |
治具規格
| 項目 | 規格 |
| 治具A | 0201~0402 |
| 治具B | 0402~1206（含disk dia.=10mm) |
| 治具C | 1206~2220 |
MLCC 高溫壽命加速實驗/ 高溫高濕壽命加速實驗
MLCC 高溫壽命加速實驗/ 高溫高濕壽命加速實驗
Temp-HALT/ Humi-Halt
應用
- MLCC 新產品開發壽命加速實驗機
- MLCC IR 溫度曲線/ 偏壓 IR 曲線
特性功能
- 01005~0201 治具設計.
- 彈匣式治具設計，單一治具抽換，免開門，避免影響其他試驗
- 限流電阻可以依照不同容值選擇限流電阻.
- 電路模組化, 客戶可以自行更換限流電阻.
- 固定溫度，電壓昇壓斜率 (線性) 客戶可自行設定。
- 固定電壓，溫度溫昇斜率 (線性) 客戶可自行設定。
- 客戶可以依照條件停止加電壓
- 高溫高濕，治具可以翻轉 180 度，避免水滴聚集影響試驗。
- 顯示良品，不良品，紀錄失效時間，IR 值及電流值。
- 可設定失效規格。
電性規格
|
項目 |
規格 |
|
絕緣電阻 |
1011~103 |
|
電壓範圍 |
0~600V, 8 台 |
|
取樣頻率 |
2s/ 10s/60s 每 CH |
高低溫爐體規格
|
項目 |
規格 |
|
產地 |
日本 |
|
溫度範圍 |
-60~150°C |
|
溫度變動/控制精度 |
0.5°C/ 0.1°C |
|
溫升速度/溫降速度 |
每分鐘 3.2°C/ 2.1°C |
|
內部尺寸 |
W*H*D 300*300*250 |
|
外部尺寸 |
W*H*D 440*625*786 |
溫濕爐規格
|
項目 |
規格 |
|
產地 |
日本 |
|
溫度範圍 |
-20~150°C |
|
溫度變動/控制精度 |
0.5°C/ 0.1°C |
|
溫升速度/溫降速度 |
每分鐘 3.2°C/ 2.1°C |
|
濕度範圍 |
30~95% RH (依照範圍表) |
|
濕度變動 |
+/-3% R.H. |
|
內部尺寸 |
W*H*D 300*300*250 |
|
外部尺寸 |
W*H*D 440*690*696 |
濕度範圍表
治具規格
|
項目 |
規格 |
|
治具 A |
01005~0402 |
|
治具 B |
0402~1206 ( 含 disk dia.=10mm) |
|
治具 C |
1206~2220 |
|
共用性 |
高溫/ 高濕可共用 |
短時間過負荷測試系統 Short Time Overload
Short Time Overload 測試
◎2.5 times RCWV or Max.
overload voltage , for 5 seconds
◎IEC 60115-1 4.13
- 單顆加載
- PCB 多顆加載
- 可依客戶需求規劃設計
TCR (溫度特性試驗)
應用
- 晶片電阻TCR實驗量測系統
- 搭配儀表特性, 確保量測再現性與再生性
- 四線式量測，全程獨隔離線等電位點，確保量測品質。
- 耐高溫治具，量測訊號線
- 提供客制化表格
- 可搭配手動/ 自動掃描器/ 軸控系統
- 可選擇搭配不同儀表
電源供應器PSU系列
- 額定功率輸出：1200W ~ 1560W
- 可調式電壓/電流上升下降斜率
- 串聯/ 並聯擴充能力(同型號最多2台(限定300V以下機種)/同型號最多4台)
- 高效率及高功率密度
- 3組Preset Function
- 前面板序列編程功能
- Bleeder Control功能
- Internal Resistance 功能
- 面板鎖定功能
- 保護功能: OVP, OCP, OHP,UVL, AC Fail, FAN Fail
- CE認証
